紫外辐照计适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、以及大规模集成电路光刻等领域饿紫外辐照测量工作。
紫外辐照计适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、以及大规模集成电路光刻等领域饿紫外辐照测量工作。
波长范围及峰值波长:(1)UV-420探头:λ:(375~475)nm;入P=420nm;(2)UV-365探头:入:(320~400)nm;入P-365nm
辐照度测量范围:(0.1~199.9 x 103)u W/cm²
紫外带外区杂光:UV420:小于0.02%;UV365:小于0.02%
相对示值误差:±8%(相对与NIM标准)
余弦特性(方向性响应误差):±10%
线性误差:±1%
换档误差:±1%
短期不稳定性:±1%(开机30min后)
疲劳特性:衰减量小于2%
零值误差:满量程的±1%
响应时间:1秒
使用环境:温度(0~40)℃,湿度<85%RH
尺寸和重量:160mmx78mm x43mm;0.2kg
电源:常规使用6F22型9V积层电池一只亦可使用数据线连接USB接口、5V电源适配器供电
整机功耗:<0.1VA
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